Difratômetro de raios X (DRX) com acessórios para pequenas áreas

Fabricante e Modelo: Rigaku, Ultima IV

Descrição: A técnica de difração de raios X disponível comumente nos laboratórios de pesquisa, a qual podemos chamar de convencional, é baseada na configuração Bragg-Brentano. Está nos possibilita analisar amostras previamente pulverizadas e obter informações sobre a estrutura cristalina e/ou relação fase amorfa/fase cristalina em amostras vitrocerâmicas. Estas informações são, de uma forma geral, uma média do que acontece na amostra, não nos possibilitando obter informações mais detalhadas, por exemplo, da evolução dos processos de cristalização em amostras vitrocerâmicas. A fim de se obter mais informações sobre os processos de cristalização em amostras vítreas, solicitou-se à FAPESP, por meio de projeto associado CEPID (CeRTEV Proc. 2013/07793-6), a aquisição de um difratômetro de raios-X com acessório para micro-área. Isto significa que este equipamento "up-to-date" pode realizar a difração de raios X forma convencional em questão de minutos (Detector de alta velocidade, modelo D/Tex Ultra2 U4, Rigaku) para refinar a estrutura cristalina de um material, ao invés de horas, como nos difratômetros antigos. Além disso, este difratômetro é equipado com um acessório que permite a difração local em uma área de 400 microns de diâmetro, permitindo obter informações localizadas sobre a evolução da estrutura cristalina em um determinado material. 

Financiamento para aquisição: FAPESP (processo # 2016/04779-0)

Local: Laboratório de Materiais Vítreos (LaMaV)/DEMa

Contato para agendamento: certevlamav@gmail.com