Microscópio Eletrônico de Varredura - FEI Inspect S 50

Fabricante e Modelo: FEI Inspect S 50

Descrição: O FEI Inspect S50 é um MEV com filamento de tungstênio extremamente versátil. As análises neste MEV podem ser realizadas tanto em alta vácuo quanto em baixo vácuo, o que permite a realização de imagens sem carregamento de amostras não-condutoras.  O FEI Inspect S50 possui detectores de EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) para microanálise química que permite quantificação e mapeamento químico. Além disso, este MEV também possui um sistema de EBSD (Electron Back Scattered Diffraction) que permite o mapeamento da orientação cristalográfica da superfície das amostras.

Financiamento para aquisição: FAPESP

Local: Laboratório de Caracterização Estrutural (LCE)/DEMa

Contato para agendamento: http://www.lce-dema.ufscar.br