Caracterização de Materiais https://www.dema.ufscar.br/pt-br/institucional/equipamento-multiusuario/caracterizacao-de-materiais https://www.dema.ufscar.br/@@site-logo/dema-inteiro-branco-horizontal .svg Caracterização de Materiais Difratômetro de raios X (DRX) com acessórios para pequenas áreas Difratômetro de raios-X - Bruker D8 Advance ECO Difratômetro de raios-X - Rigaku Geiger-Flex Difratômetro de raios-X - Siemens D5005 Espectrômetro de fluorescência de raios-X por Energia Dispersiva Espectrômetro de Fluorescência de Raios X (XRF) Espectrômetro de Infravermelho (FT-IR) Microscópio Confocal Microscópio de Força Atômica - Bruker Multimode 8 Microscópio Eletrônico de Transmissão - FEI TECNAI G2 S-TWIN Microscópio Eletrônico de Transmissão - FEI TECNAI G² F20 HRTEM Microscópio Eletrônico de Transmissão - Philips CM-120 Microscópio Eletrônico de Varredura de alta resolução Microscópio Eletrônico de Varredura - FEI Inspect S 50 Microscópio Eletrônico de Varredura - Philips XL-30 FEG Microscópio Eletrônico de Varredura - Philips XL-30 TMP Microscópio Eletrônico de Varredura de Bancada com Acessório EDS Reômetro de placas paralelas de tensão controlada Sistema completo ASTAR para mapeamento e orientação cristalográfica de fases
